Belyaev A. A. Radiation hardness of AlAs/GaAs-based resonant tunneling diodes = Радіаційна стійкість резонансно-тунельних діодiв на основі гетероструктур AlAs/GaAs / A. A. Belyaev, A. E. Belyaev, R. V. Konakova, S. A. Vitusevich, V.V. Milenin, E. A. Soloviev, L. N. Kravchenko, T. Figielski, T. Wosinski, A. Makosa // Фізика напівпровідників, квант. електроніка та оптоелектроніка. - 1999. - 2, № 1. - С. 98-101. - Библиогр.: 19 назв. - англ.Досліджено вплив накопиченої дози гама-опромінення Со60 на електричні характеристики двобар'єрних резонансно-тунельних діодів. Прилади виявляють підвищену радіаційну стійкість і зберігають працездатність аж до доз 2 times 109 рад. Показано, що всі зміни вольт-амперних характеристик обумовлені впливом іонізуючого опромінення на нелеговані шари гетероструктур. Відмічається також, що радіаційно-стимульована дифузія компонентів гетеропари в області контакту відіграє важливу роль в розподілі падіння напруги вздовж шарів гетероструктури. Ключ. слова: резонансне тунелювання, gamma-випромiнювання, дефекти Індекс рубрикатора НБУВ: З851.122
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|