Досліджено зміну оптичних властивостей монокристалів вольфраму після опромінення великою дозою іонів дейтерієвої плазми. Поверхні опромінено великою дозою іонів дейтерієвої плазми з енергією в діапазоні E = 0,1 - 1,77 кеВ з усуненням шару завтовшки 5,5 мкм для поверхні (110) та 6,4 і 7,0 мкм для поверхні (111). Зміну оптичних властивостей опромінених дзеркал вивчено спектральним еліпсометричним методом з енергією зондуючих фотонів у діапазоні 0,5 - 5 еВ. Зміни мікрорельєфу поверхні досліджено методом атомної силової мікроскопії. Кореляція оптичних характеристик монокристалів вольфраму дозволяє стверджувати, що збільшення товщини розпиленого іонами дейтерію шару викликає більш помітне зменшення величини оптичної провідності в ультрафіолетовій області, ніж в інфрачервоній і збільшення ширини характеристичних смуг поглинання поблизу 1, 1,7, 2,2 і 3 еВ. Оскільки атомна силова мікроскопія не виявила значних змін у мікрорельєфі поверхні W (111) після опромінення іонами дейтерію (найбільша нерівність 6 нм), зміни у спектрах оптичної провідності можна пояснити розупорядкуванням дзеркального приповерхневого шару після такого іонного бомбардування.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"