Тарбаєв М. І. Визначення щільності сходинок на гвинтових дислокаціях у напівпровідниках A2B6 з вимірювань оптичного поглинання / М. І. Тарбаєв // Укр. фіз. журн. - 1999. - 44, № 11. - С. 1421-1423. - Бібліогр.: 13 назв. - укp.На основі вимірювань оптичного поглинання зроблено кількісну оцінку лінійної щільності сходинок на гвинтових дислокаціях у гратці напівпровідникового кристала, які, рухаючись за умов низьких температур (T < 77 K), утворюють низки точкових дефектів з регулярною одновимірною структурою. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|