На основі динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів реальними кристалами одержано вирази для когерентної та дифузної складових повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) у випадку брегг-дифракції. Отримані формули є справедливими у випадку сильного поглинання, а також за умов значного вкладу аномальної дисперсії chi_ih >> chi_rh. Проаналізовано поведінку інтерференційного коефіцієнта поглинання для структурних і квазізаборонених рефлексів (КЗР) у кристалах GaAs. Встановлено слабку чутливість дифузного розсіяння для КЗР до дефектів кулонівського типу, що дозволило визначити параметр відхилення хімічного складу бінарних кристалів від ідеального під час вимірювань енергетичних залежностей ПІВЗ.

• Кладько Василь Петрович (1957–) (фізико-математичні науки)
• Оліховський Степан Йосипович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"