Вовк Я. М. Вплив високочастотної плазмової обробки на властивості гетероструктур (a)SiC/p-Si / Я. М. Вовк, О. М. Назаров, В. С. Лисенко, А. С. Ткаченко, Т. М. Назарова // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 2000. - Вып. 35. - С. 109-120. - Бібліогр.: 21 назв. - укp.Уперше вивчено вплив високочастотної (ВЧ) плазмової обробки на головні електрофізичні параметри гетероструктури аморфний SiC/кристалічний Si, яка мала рекордні значення напруги пробою. Продемонстровано, що ВЧ плазмова обробка структури призводить до значної трансформації вольт-амперної характеристики гетеропереходу в області низьких температур вимірювання. Показано, що найбільший вплив плазми проявляється в області механізму стрибкової провідності за станами поблизу рівня Фермі (за умови максимальної температури плазмової обробки щільність станів на рівні Фермі збільшується майже у 18 разів). З'ясовано, що плазма призводить до зменшення висоти потенціального бар'єра для електронів на межі SiC/p-Si і значного зменшення опору Al/SiC контакту (більше, ніж утричі за максимальної температури ВЧ плазмової обробки). Обговорено механізми впливу ВЧ плазми на електрофізичні властивості гетероструктури SiC/Si. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.3-06
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|