Рентгеновским, пикнометрическим, ЯМР (на ⁵⁵Mn и ¹³⁹La) и магниторезистивным методами исследовали две системы манганит-лантановых оксидов со структурой перовскита: La_{1 - x}Mn_{1 + x}O₃ (0 <= x <= 0,4) и La_0,7Pb_{0,3 - x}Sn_xMnO₃ (0 <= x <= 0,3). Образцы первой системы были однофазными, а второй - неоднофазными и наряду с перовскитоподобной (R3^-с) фазой La_{0,7 - x}Pb_{0,3 - x}MnO₃ содержали La₂Sn₂O₇. Показано, что реальная структура магниторезистивных манганит-лантановых оксидов обеих систем содержит дефекты вычитания одновременно в катионной и анионной подрешетках. Установлена корреляция между дефектностью кристаллической решетки и магниторезистивным эффектом.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"