Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000032367<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Раранский Н. Д. Изображения микродефектов на рентгеновских секционных топограммах в акустически возбужденном кристалле / Н. Д. Раранский, В. Б. Молодкин, И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, С. В. Бобровник // Металлофизика и новейшие технологии. - 2000. - 22, № 3. - С. 26-32. - Библиогр.: 13 назв. - рус.На основі числового розв'язку системи рівнянь Такагі досліджено вплив параметрів акустичного хвильового поля на підсилення і пригнічення дифракційного контрасту мікродефектів на секційних топограмах. Розглянуто однорідний (n = 6,2 . 105 см-3) і хаотичний (n = 2,5 . 107 см-3) розподіли мікродефектів в об'ємі для тонкого (mu t approx 1) і проміжної товщини (mu t approx 3) кристалів кремнію. Досліджено вплив короткодіючих полів деформацій від мікродефектів і макроскопічних деформацій від ультразвуку на інтегральні параметри структурної досконалості кристалів. Ключ. слова: рентген, ультразвук, дифракционный контраст, микродефекты, секционные топограммы, динамическое рассеяние, структурное совершенство кристаллов Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|