Исследовано влияние содержания углерода, кремния и марганца на частичную излучательную способность ( epsilon_r) железоуглеродистых расплавов в лабораторных и промышленных условиях в спектральном (0,12 - 8,00 мкм) и температурном (1250 - 1600 °С) диапазонах, доступных для современной оптоэлектронной и пирометрической техники. Установлено, что epsilon_r зависит от содержания углерода неоднозначно. Например, при увеличении его содержания в высокомарганцовистых чугунах (с низким Si) epsilon_r уменьшается, а в высокомарганцовистых чугунах (с высоким Si) - увеличивается. При увеличении содержания кремния и марганца epsilon_r соответственно повышается и понижается. Влияние химического состава на epsilon_r является селективным и определяется селективностью поглощения прозрачных оксидных пленок и связанной с ними интерференцией излучения.

• Жуков Леонід Федорович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"