![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000033381<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Воробкало Ф. М. Определение концентрации глубоких центров в полуизолирующем GaAs по спектрам поглощения ИК излучения He - Ne-лазера / Ф. М. Воробкало, А. В. Прохорович // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 137-141. - Библиогр.: 11 назв. - рус.Предложена методика использования He - Ne-лазера для измерения концентрации глубоких центров хрома или EL2 в полуизолирующем (ПИ) GaAs по спектрам поглощения. Для измерения спектральной зависимости коэффициента поглощения k(hnu) используется малоинтенсивное некогерентное излучение He - Ne-лазера с линейчатым спектром в области 0,8 - 1,4 эВ. Определена концентрация хрома в ПИ GaAs : Cr и концентрация нейтральных EL20 и положительно заряженных EL2+ центров в ПИ GaAs, содержащем глубокие центры EL2. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.222 + В379.247
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|