РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000034287<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Каганович Е. Б. Спектральна фоточутливість структур на пористому кремнії / Е. Б. Каганович, Е. Г. Манойлов, С. В. Свєчніков, Г. А. Пащенко // Укр. фіз. журн. - 1999. - 44, № 5. - С. 603-605. - Бібліогр.: 12 назв. - укp. Досліджено фотоелектричні властивості двох типів сандвіч-структур алюміній / пористий кремній / монокристалічний кремній / алюміній (Аl/ПК/с-Si/Al) з тонкими і товстими шарами ПК, одержаними хімічним забарвлюючим травленням без застосування електричного поля. Виміряно вольт-амперні характеристики (ВАХ) та спектральні залежності фотовідгуку. Встановлено, що властивості структур з тонкими шарами ПК визначаються гетеропереходом (ГП) ПК/с-Si з проявом локальних станів на межі поділу. Фоточутливість структур з товстими шарами ПК визначається фотопровідністю (ФП) ПК. Максимум спектральної залежності ФП шарів ПК лежить в області 400 - 500 нм. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.271 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського