Венгер Е. Ф. Электронные свойства покрытой пленками CaF2 - SiO2 поверхности германия / Е. Ф. Венгер, С. И. Кириллова, В. Е. Примаченко, В. А. Чернобай // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. - 1999. - Вып. 34. - С. 30-36. - Библиогр.: 12 назв. - рус.Методами температурных и электрополевых зависимостей поверхностной фотоЭДС исследованы электронные свойства реальной и хлорированной поверхностей. Показано, что нанесение пленок и старение увеличивают поверхностный потенциал германия phis в области 300 - 100 К, ликвидируют аномальные участки phis(T), связанные с перестройкой системы быстрых поверхностных электронных состояний (ПЭС), а также ликвидируют фотопамять phis в низкотемпературной области. Определяемая из электрополевых зависимостей phis концентрация эффективных ПЭС на германии с пленками CaF2 - SiO2 несущественно отличается от таковой на реальной поверхности германия. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.271
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж60673 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|