Розглянуто методи неруйнівного пошарового аналізу елементного складу поверхні твердих тіл, що грунтуються на використанні оже-, рентгенівської фотоелектронної та іонізаційної спектроскопії. Відзначено, що суть цих методів полягає у проведенні двох послідовних операцій: 1) реєстрації залежності концентрації елементів від фактора, пов'язаного з глибиною залягання (наприклад, енергії первинних електронів або кута їх падіння відносно нормалі до поверхні); 2) відновлення пошарової інформації методами математичної обробки експериментальних даних, використовуючи регуляризуючі алгоритми та апріорну інформацію. Проведено серії модельних розрахунків для відновлення різних форм концентраційних профілів. Досліджено чутливість одержаних концентраційних профілів до статистичних похибок у вхідних даних. Методи апробовано при вивченні процесів термостимульованої сегрегації у поверхневі шари бінарних монокристалічних сплавів Co₅₀Ni₅₀(100) та FeNi₃(111). З'ясовано, що сплав Co₅₀Ni₅₀ має монотонний концентраційний профіль, а FeNi₃ - осцилюючий. Встановлено взаємозв'язок цих сегрегаційних тенденцій з ефектами розшарування та упорядкування атомів у досліджених сплавах, а також термостимульованими s <- vec d-змінами спектра валентних електронів.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"