Визначено параметри поверхні твердого тіла методами Х-променевої рефлектометрії. Описано структурні зміни в кристалах кремнію після високоенергетичного електронного і гамма-опромінень. Висвітлено параметричну ідентифікацію малосигнальних схем біполярних транзисторів, класичну теорію випромінювання заряджених частинок. Проаналізовано особливості спектрів випромінювання нітрид-галієвого світлодіода з квантово-розмірною структурою. Розглянуто питання про утворення фулеренів, математичного моделювання процесу передачі деформації у ємнісному дилатометрі.

Определены параметры поверхности твердого тела методами Х-лучевой рефлектометрии. Описаны структурные изменения в кристаллах кремния после высокоэнергетического электронного и гамма-облучений. Освещены параметрическая идентификация малосигнальных схем биполярных транзисторов, классическая теория излучения нитрид-галиевого светодиода с квантово-размерной структурой. Рассмотрены вопросы об образовании фулеренов, математического моделирования процесса передачи деформации в ёмкостном дилатометре.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"