Викладено фізичні основи та наведено приклади застосування методів дослідження структури наносистем і наноматеріалів, а також фур'є-когерентного аналізу для обробки електронно-мікроскопічних зображень нанооб'єктів. Проаналізовано структуру наноматеріалів за допомогою просвічувальної електронної мікроскопії високої роздільної здатності, електронно-зондових приладів, мікроскопів, спектрометрів та аналізаторів.

Изложены физические основы и приведены примеры применения методов исследования структуры наносистем и наноматериалов, а также фурье-когерентного анализа для обработки электронно-микроскопических изображений нанообъектов. Проанализирована структура наноматериалов с помощью просвечивающей электронной микроскопии высокой разделяющей способности, электронно-зондовых приборов, микроскопов, спектрометров и анализаторов.

• Шпак Андрій Петрович (юридичні науки)
• Шпак Анатолій Петрович (1949–2011) (фізико-математичні науки)
• Смик Сергій Юрійович (технічні науки)
• Смик Сергій Юрійович (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"