Спирин В. Г. Оценка производственных погрешностей тонкопленочных элементов / В. Г. Спирин // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2004. - № 4. - С. 50-53. - Библиогр.: 7 назв. - рус.Разработаны тестовая схема и алгоритмы расчета для определения систематических и случайных погрешностей конструктивных параметров тонкопленочного резистора. Проведена экспериментальная оценка этих погрешностей. Приведены формулы для расчета размеров проводников и контактных площадок. The test circuit and computational algorithm for determining systematic/random errors of the thin-film resistor design values are developed. The experimental evaluation of the above errors is conducted. Formulas for size calculation of conductors and terminations pads are given. Ключ. слова: тестовая схема, производственные систематические и случайные погрешности, тонкопленочные элементы, алгоритм расчета. Індекс рубрикатора НБУВ: З264.7
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|