Швець Є. Я. Діагностика, контроль та випробування напівпровідникових приладів : навч. посіб. / Є. Я. Швець, О. Ю. Небеснюк, З. А. Ніконова, А. О. Ніконова; Запоріз. держ. інж. акад. - Запоріжжя, 2007. - 174 c. - Бібліогр.: с. 171-173. - укp.Розглянуто проблеми якості та надійності напівпровідникових приладів і інтегральних мікросхем (ІМС). Описано автоматизовані методи та засоби контролю їх параметрів. Наведено інформацію про механізми раптових відмов діодів і біполярних транзисторів, металографічний аналіз, рентгенівську дефектоскопію, мас-спектрометричний контроль, вакуум-рідинний і компресійно-термічний методи контролю ІМС. Рассмотрены проблемы качества и надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (ИМС). Описаны автоматизированные методы и средства контроля их параметров. Приведена информация о механизмах внезапных отказов диодов и биполярных транзисторов, металлографическом анализе, рентгеновской дефектоскопии, масс-спектрометрическом контроле, вакуум-жидкостном и компрессионно-термическом методах контроля ИМС. Індекс рубрикатора НБУВ: З852я73-1 + З844.1я73-1
Шифр НБУВ: ВА697932 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|