З застосуванням растрового електронного мікроскопу та електроннозондового рентгенівського мікроаналізу проведено дослідження поверхні анодів і вторинно-емісійних катодів 3- та 8-міліметрових магнетронів після тривалих випробувань. Виявлено нерівномірно розподілені на поверхні ерозію та зміну складу. Описано можливі механізми, що викликають виявлені зміни. Одержані результати важливі для вирішення актуальної проблеми підвищення рівня надійності та повторюваності приладів, які застосовуються в найновіших НВЧ системах.

С применением растрового электронного микроскопа и электроннозондового рентгеновского микроанализа проведено исследование поверхности анодов и вторично-эмиссионных катодов 3- и 8-милиметровых магнетронов после длительных испытаний. Обнаружены неравномерно распределенные по поверхности эрозия и изменение состава. Описаны возможные механизмы, вызывающие обнаруженные изменения. Полученные результаты важны для решения актуальной проблемы повышения уровня надежности и повторяемости приборов, применяемых в новейших СВЧ системах.

A study of anode and secondary emission cathode surface of three-millimeter and eight-millimeter magnetrons was performed with scanning electron microscope and the electron probe X-ray microanalysis after long life tests. Nonequal surface erosion and change of surface composition were found. Possible mechanisms causing found changes has been described. The obtained results are important for solving of the essential problem of increasing of reliability and repeatability level of devices which are using in up-to-date microwave systems.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"