Описан автоматизированный спектрометр для исследования параметров примесных и дефектных центров в полупроводниках и полупроводниковых структурах методом релаксационной спектроскопии глубоких уровней. Разработка набора программ для управления и обработки данных позволяет автоматизировать процессы измерения и увеличить точность полученных результатов.

The automatіc spectrometer for investigation parameters of deep levels related to impurities and defects in semiconductors and semiconducting structures by deep level transіent spectroscopy method has been presented. Application of computer for control and data processing allows to automate measurements and to increase accuracy.

• Бойко Юлія Вікторівна (юридичні науки)
• Бойко Юрій Володимирович (1962–) (фізико-математичні науки)
• Бойко Юрій Васильович (ветеринарні науки)
• Бойко Юлія Володимирівна (1976–) (хімічні науки)
• Бойко Юлія Василівна (сільськогосподарські науки)
• Кузнецов Геннадій Васильович (фізико-математичні науки)
• Третяк Олена Володимирівна (педагогічні науки)
• Третяк Олексій Володимирович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"