Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який грунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом багаторівневого (ієрархічного) віртуального розбиття загальної схеми пристрою на окремі функціональні фрагменти та відповідним чином організованого їх тестування можна виділити несправну підсхему. Досліджено ефективність методу локалізації за діагностики електронних пристроїв.

Предложен метод локализации неисправных подсхем электронных устройств, основанный на принципе декомпозиции. Показано, что путем многоуровневого (иерархического) виртуального разбиения общей схемы устройства на отдельные функциональные фрагменты и определенным образом организованного их тестирования можно выделить неисправную подсистему. Исследована эффективность метода локализации при диагностике электронных устройств.

The method of localization of defective sub charts of electronic devices, based on principle of decompositions, is offered. It is shown, that by the multilevel (hierarchical) virtual breaking up of total chart of device on separate functional fragments and, definitely organized their testing, it is possible to select a defective subsystem. Efficiency of method of localization at diagnostics of electronic devices is explored

• Верлань Андрій Анатолійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"