Єфанов О. М. Динамічна дифракція X-променів у багатошарових структурах : монографія / О. М. Єфанов, В. П. Кладько, В. Ф. Мачулін, В. Б. Молодкін; Ін-т фізики напівпровідників ім. В.Є.Лашкарьова НАН України. - К. : Наук. думка, 2008. - 224 c. - (Проект "Наук. кн."). - Бібліогр.: с. 207-220. - укp.Наведено результати структурного аналізу кристалічних речовин, проведеного за допомогою дифракції X-променів. Основну увагу приділено динамічній теорії дифракції в багатошаровых структурах. Описано найбільш важливі алгоритми розрахунку динамічної дифракції у випадку двох і більше сильних хвиль. Розглянуто застосування динамічної теорії для таких випадків: нерізкі межі між шарами, анізотропні спотворення структури, побудова карт оберненого простору. Проаналізовано поняття оберненего простору та його зв'язок з явищем дифракції. Розкрито проблеми визначення параметрів досліджуваної структури з експерименту. Приведены результаты структурного анализа кристаллических веществ, проведенного при помощи дифракции X-лучей. Основное внимание уделено динамической теории дифракции в многослойных структурах. Описаны наиболее важные алгоритмы расчета динамической дифракции в случае двух и более сильных волн. Рассмотрены применения динамической теории для таких случаев: нерезкие границы между слоями, анизотропные искажения структуры, построение карт обратного простанства. Проанализированы понятие обратного пространства и его связь с явлением дифракции. Раскрыты проблемы определения параметров исследованной структуры из эксперимента. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,021
Рубрики:
Шифр НБУВ: ВА708050 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|