Висвітлено теоретичні засади сучасних методів діагностики поверхні твердого тіла. Розглянуто метричні та фрактальні параметри мікрогеометрії поверхні, питання фізики поверхневих явищ і процесів. Проведено класифікацію методів дослідження поверхні, розкрито їх фізичні основи, можливості та способи реалізації. Увагу приділено методам сканувальної зондової мікроскопії, зокрема атомно-силовій і тунельній мікроскопії, а також методам повного зовнішнього відбиття та дифракції X-променів.

Освещены теоретические основы современных методов диагностики поверхности твердого тела. Рассмотрены метрические и фрактальные параметры микрогеометрии поверхности, вопросы физики поверхностных явлений и процессов. Проведена классификация методов исследования поверхности, раскрыты их физические основы, возможности и способы реализации. Уделено внимание методам сканирующей зондовой микроскопии, в частности атомно-силовой и туннельной микроскопии, а также методам полного внешнего отражения и дифракции X-лучей.

• Фодчук Ігор Михайлович (технічні науки)
• Баловсяк Сергій Васильович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"