Описано рентгеноспектральний флуоресцентний метод визначення вмісту Sr, Y, Hf, Pb, Th, U в окремих мікрокристалах акцесорних мінералів, що має достатню точність і велику продуктивність. Наведено приклади та висвітлено перспективи його застосування в геологічних дослідженнях.

Описан рентгеноспектральный флуоресцентный метод определения содержания Sr, Y, Hf, Pb, Th, U в отдельных микрокристаллах акцессорных минералов, который обладает достаточной точностью и большой производительностью. Приведены примеры и перспективы его применения в геологических исследованиях.

XRF method of Sr, Y, Hf, Pb, Th and U content determination in accessory minerals single microcrystals is presented. The method is productive and quite accurate. The examples of application and perspectives for geological investigations of the method are given.

• Андреєв Олександр Володимирович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"