Разработан новый метод жидкокристаллической термографии "горячих точек" в кристаллах изделий микроэлектроники, основанный на использовании визуального отображения "горячей точки" локальной холестерической фазой в прозрачной смектической фазе холестерического жидкого кристалла на фоне четкого изображения топологических элементов поверхности кристала изделия. Приведены примеры отображения "горячих точек" на образцах кристаллов различных типов интегральных схем.

New method of liquid crystal thermography of Уhot spotsФ in crystals of microelectronic products have been developed. The method is based on the use of local cholesteric phase image of Уhot spotФ in transparent smectic phase of cholesteric liquid crystal against a background of clearly visible topological elements on the surface of microelectronic device crystal. Examples of Уhot spotФ images in crystals of different types of integrated circuits are shown

• Попов Віктор Миколайович (сільськогосподарські науки)
• Попов Віталій Миколайович (біологічні науки)
• Попов Володимир Миколайович (економічні науки)
• Попов Вадим Михайлович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"