Колодий З. А Связь параметров спектральной плотности фликкер-шума с особенностями внутренней структуры системы / З. А Колодий, О. Г. Крук, Ю. В. Саноцкий, В. Д. Голынский, А. З. Колодий, П. И. Депко // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2009. - № 1. - С. 10-14. - Библиогр.: 4 назв - рус.Наведено результати комп'ютерного моделювання хаотичного руху елементарних частинок в плоскому прямокутнику, якому можна поставити у відповідність плівковий резистор з електронами провідності. Аналіз спектральної щільності хаотичного руху вказує, що один з параметрів флікер-шуму залежить від кількості елементарних частинок і середньої швидкості їх руху. Другий параметр флікер-шуму (час релаксації) залежить від особливостей внутрішньої структури системи. Це може бути використано для прогнозування надійності як окремих елементів електроніки, так і апаратури в цілому за рівнем їх флікер-шуму, який можна виміряти. Приведены результаты компьютерного моделирования хаотического движения элементарных частиц в плоском прямоугольнике, которому можно поставить в соответствие пленочный резистор с электронами проводимости. Анализ спектральной плотности хаотического движения показывает, что один из параметров фликкер-шума зависит только от количества элементарных частиц и средней скорости их движения. Второй параметр фликкер-шума (время релаксации) зависит от особенностей внутренней структуры системы. Это может быть использовано для прогнозирования надежности как отдельных элементов электроники, так и аппаратуры в целом по измеренному уровню их фликкер-шума. The results of computer design of chaotic motion of elementary particles are resulted in a flat rectangle which can be put in accordance to a pellicle resistor with the electrons of conductivity. The analysis of spectral closeness of chaotic motion shows that one of parameters of flicker-noise depends only on the amount of elementary particles and middle rate of their movement. The second parameter of flicker-noise (time of relaxation) depends on the features of underlying structure of the system. It can be used for prognostication of reliability as separate elements of electronics so apparatus as a whole on the measured level of their flicker-noise. Ключ. слова: фликкер-шум, спектральная плотность флуктуаций, время релаксации Індекс рубрикатора НБУВ: З841-017.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|