В интервале длин волн от 400 до 2000 нм изучены фотоэлектронные характеристики фотодетектора, изготовленного на основе поликристаллического алмаза. Выявленный нежелательный фотоотклик для видимого участка оптического диапазона связан с электронными свойствами реконструированных (<$E 2~times~1>) и релаксированных (<$E 1~times~1>) участков поверхности (111) нелегированной алмазной поликристаллической пленки. Это позволяет предложить его уменьшение при помощи отжига и гидрогенизации алмазной пленки при 870 К.

• Токий Наталья Валентиновна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"