![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000120304<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Свечников В. Л. Анализ напряженного состояния тонких пленок <$E roman fat {YBa sub 2 Cu sub 3 O sub {7~-~delta}} >, содержащих дислокации / В. Л. Свечников // Металлофизика и новейшие технологии. - 2001. - 23, № 10. - С. 1333-1341. - Библиогр.: 9 назв. - рус.Проаналізовано напружений стан тонких орторомбічних плівок на кубічних підкладках за наявності в структурі плівки дислокацій. Наведено простий математичний опис впливу напруженого стану плівки на зміни в симетрії рентгенівських (005) рефлексів. Ключ. слова: напряжения, деформации, тонкие пленки, сверхпроводник Індекс рубрикатора НБУВ: К202.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|