Ткач С. В. Возможности цифровой растровой микроскопии высокого разрешения при исследовании структуры двухслойного композита / С. В. Ткач, Е. Ф. Кузьменко, В. Н. Ткач, А. Г. Гонтарь, А. А. Шульженко // Сверхтвердые материалы. - 2003. - № 5. - С. 33-39. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Описано устройство согласования растрового электронного микроскопа с PCI-шиной компьютера, позволяющее получать 24-битные изображения высокого разрешения размером <$E 4~096~times~4~096> пикселей. Исследована с его использованием структура режущей двухслойной пластины, состоящей из твердосплавной подложки и композита на основе кубического нитрида бора: (WC - Co) - (cBN, TiN, Al). Определен размер зерен композита. Показано, что на границе подложки с композитом в процессе спекания образуется тонкая (5 мкм) прослойка, содержащая 16 % кобальта и 11 % алюминия. В композите имеется широкая (до 60 мкм) промежуточная зона с содержанием кобальта на уровне 8 %. Наличие промежуточной зоны, обогащенной кобальтом, и отсутствие кобальта в композите на расстоянии более 60 мкм обеспечивают высокие эксплуатационные свойства режущей двухслойной пластины. Індекс рубрикатора НБУВ: К630.099-56 + К722.536.019.92
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|