Глауберман М. А. Вплив структурних дефектів у приповерхневих шарах кремнію на рухливість носіїв заряду в каналі МОН-транзисторів та порогову напругу / М. А. Глауберман, О. А. Кулініч, Н. М. Садова // Укр. фіз. журн. - 2002. - 47, № 8. - С. 779-783. - Бібліогр.: 9 назв. - укp.За допомогою сучасних методів дослідження визначено основні параметри вольт-амперних характеристик МОН-транзисторів і вплив на них структурних недосконалостей, домішкового складу та неоднорідностей легування. Досліджено пластини вихідного монокристалічного кремнію, а також структури оксид - кремній. Установлено, що в більшості випадків основними домішками у вихідному кремнії, а також у пластинах кремнію, після зняття оксиду, є кисень і вуглець. Кисень проявляє електричну активність і таким чином впливає на параметри структурних дефектів, які, в свою чергу, впливають на рухливість і порогову напругу. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.225
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|