Молодкин В. Б. Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия наноразмерных многослойных систем / В. Б. Молодкин, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, И. М. Фодчук, В. Б. Гевик, Б. Ф. Журавлев // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 12. - С. 1605-1616. - Библиогр.: 31 назв. - рус.Використовуючи високороздільну рентгенівську двокристальну дифрактометрію досліджено, багатошарові системи, що містять шари квантових ям типу InxGa1-xAs1-yNy. З аналізу кривих дифракційного відбиття визначено вміст азоту в шарі квантової ями та буферних шарах. Показано, що значне перемішування In і Ga на границі розділу відбувається ще в процесі росту шару КЯ. В результаті взаємодифузії атомів In у бар'єрний шар GaAs та атомів Ga - в КЯ розмивається границя міжшарового розділу. Ключ. слова: рентгеновская рефлектометрия, взаимодиффузия, многослойники, квантовые ямы, неразрушающее тестирование Індекс рубрикатора НБУВ: В371.236 + В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|