РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000123726<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Молодкин В. Б. 
Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия наноразмерных многослойных систем / В. Б. Молодкин, Е. Н. Кисловский, С. И. Олиховский, И. М. Фодчук, В. Б. Гевик, Б. Ф. Журавлев // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - 25, № 12. - С. 1605-1616. - Библиогр.: 31 назв. - рус.

Використовуючи високороздільну рентгенівську двокристальну дифрактометрію досліджено, багатошарові системи, що містять шари квантових ям типу InxGa1-xAs1-yNy. З аналізу кривих дифракційного відбиття визначено вміст азоту в шарі квантової ями та буферних шарах. Показано, що значне перемішування In і Ga на границі розділу відбувається ще в процесі росту шару КЯ. В результаті взаємодифузії атомів In у бар'єрний шар GaAs та атомів Ga - в КЯ розмивається границя міжшарового розділу.


Ключ. слова: рентгеновская рефлектометрия, взаимодиффузия, многослойники, квантовые ямы, неразрушающее тестирование
Індекс рубрикатора НБУВ: В371.236 + В372.134

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського