Приведена оценка поперечного сечения смещения атома углерода в алмазе при облучении электронами 3,5 МэВ с учетом ступенчатой функции вероятности образования дефектов. Для алмазов типа IIa, облученных электронами при 300 К, проанализированы известные экспериментальные данные для концентраций вакансий и скорости их образования. Показано, что расчетные поперечные сечения смещения <$Esigma> в 10 - 25 раз превышают экспериментальные данные, поэтому необходим новый расчет <$Esigma> для алмазов с учетом реальной, а не ступенчатой функции вероятности образования дефектов при облучении.

• Івахненко Сергій Олексійович (1950–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"