Розглянуто принципи сканувальної зондової мікроскопії, конструкцію та функціонування атомно-силових і магнітних силових мікроскопів, а також основні методи реєстрації сил взаємодії зонда з поверхнею, яка досліджується. Наведено оптимальні параметри голок зондів магнітних силових мікроскопів. Особливу увагу приділено використанню сканувальної зондової мікроскопії у техніці магнітного запису, а також її можливостям у сфері відновлення інформації.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"