Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000130056<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Хорошун Л. П. Модель кратковременной повреждаемости трансверсально-изотропного пьезоэлектрического материала / Л. П. Хорошун, Т. И. Дородных // Приклад. механика. - 2003. - 39, № 9. - С. 64-73. - Библиогр.: 10 назв. - рус.Викладено теорію мікропошкодження пористих трансверсально-ізотропних п'єзоелектричних матеріалів. Мікроруйнування в компонентах моделюються порами. Критерій руйнування в мікрооб'ємі компонента приймається у формі узагальненого критерію Губера - Мізеса для трансверсально-ізотропного середовища. Границя міцності є випадковою функцією координат зі степеневим розподілом або розподілом Вейбулла. Напружено-деформований стан та ефективні властивості матеріалу визначено на базі стохастичних рівнянь теорії електропружності. Замикання рівнянь деформування та мікропошкодження здійснено на базі рівнянь балансу пористості. Побудовано залежності мікропошкодження від простих макродеформацій і діаграми деформування для різних значень напруженості електричного поля; досліджено вплив напруженості електричного поля на мікропошкодження п'єзоелектричних матеріалів. Індекс рубрикатора НБУВ: В251.106
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж29095 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|