Тожиев Р. Ж. Неразрушающий контроль качественных параметров металлических поверхностей на основе оптоэлектронных датчиков / Р. Ж. Тожиев, Н. Р. Рахимов, К. Г. Махмудов, Ш. К. Рузматов // Техн. диагностика и неразрушающий контроль. - 2002. - № 3. - С. 38-40. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Для определения качественных параметров металлических поверхностей предложен оптоэлектронный метод, основанный на измерении светового потока, отраженного от поверхности контролируемого объекта, и его сравнении с аналогичной характеристикой эталона. Рассмотрены два принципиальных схемотехнических решения. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж820.51с3
Шифр НБУВ: Ж14309 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|