Дробнич В. Г. Оптичний метод кількісного безеталонного елементного аналізу поверхні іонними пучками / В. Г. Дробнич, С. В. Охріменко, С. С. Поп, І. С. Шароді, О. М. Конопльов // Укр. фіз. журн. - 2003. - 48, № 2. - С. 186-191. - Бібліогр.: 20 назв. - укp.Розглянуто фізичні основи нещодавно запропонованого оптичного методу кількісного безеталонного елементного аналізу поверхні твердих тіл іонними пучками. Виконано детальні оцінки його аналітичних можливостей. Зокрема, для атомів 50-ти елементів періодичної системи елементів оцінено межу виявлення домішки. Показано, що даний метод не лише відкриває можливість здійснення безеталонного елементного аналізу будь-яких матеріалів, але й перевищує за концентраційною чутливістю відомі аналоги. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.5в734
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|