Наведено методики оцінки середнього напрацювання щодо відмови виробів електронної техніки (MTTF) на основі використання DN-розподілу для різних експериментальних і довідкових даних про надійність: інтенсивності відмов, імовірності відмов, мінімального напрацювання, величини FIT. Відзначено, що прогнозовані оцінки MTTF на базі експоненціального розподілу суттєво завищені у порівнянні з аналогічними оцінками на підставі DN-розподілу.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"