С помощью методов рентгенодифрактометрического сканирования <$E theta "/" 2 theta> и качания (угол <$E 2 theta> фиксированный) получены зависимости ширины рефлексов двух порядков от <$E K sub beta>-излучения сориентированных по различным кристаллографическим плоскостям монокристаллов парателлурита. Для поверхностей монокристалла <$E roman TeO sub 2> показано, что метод качания более чувствителен к общему состоянию обработанной поверхности для всех видов обработки (раскалывания, разрезания, шлифования, полирования). Наблюдается тенденция совпадения ширины пиков разных порядков отражения, указывающая на высококачественно обработанную поверхность с минимальной шероховатостью.

• Проц Лариса Анатоліївна (технічні науки)
• Соломон Андрій Михайлович (фізико-математичні науки)
• Соломон Алла Миколаївна (1978–) (технічні науки)
• Пуга Павло Павлович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"