Кшевецький О. С. Рентгенівська структурна діагностика термоелектричних матеріалів / О. С. Кшевецький, І. М. Фодчук // Термоелектрика. - 2002. - № 3. - С. 45-47. - Бібліогр.: 5 назв. - укp.За допомогою методів рентгенівської порошкової дифрактометрії, топографічних методів у схемах Берга - Баррета, Ленга, Бормана проведено структурну діагностику ряду термоелектричних матеріалів. Відзначено взаємозв'язок між структурними та термоелектричними властивостями досліджуваних матеріалів. Індекс рубрикатора НБУВ: В377.151в738.3
Шифр НБУВ: Ж23042 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|