Досліджено структуру тонких плівок фулериту С60. Плівки одержано вакуумним термічним випаруванням та конденсацією на кристали NaCl. За температури підкладок 293 - 473 К. Дослідження здійснено у просвічувальному електронному мікроскопі за 100 кВ та методом рентгенівської дифрактометрії. Встановлено, що темнопольні зображення окремих частинок фулериту та, особливо, зерен суцільних тонких плівок мають дефекти упаковки та двійники, кількість яких збільшується з підвищенням температури підкладки. Рентгенівські дифракційні картини плівок фулериту відрізняються надзвичайно дифузними рефлексами та присутністю слабкого рефлексу біля (111) ГЦК, який можна віднести до гексагональної щільноупакованої модифікації фулериту. Обробку рентгенограм проведено методом Рітвельда. Найкращий збіг експериментального та теоретичного дифракційних профілів отримано за таких структурних параметрів: співвідношення ГЦК (а=1,4117 нм) та ГЩУ (а=0,9756 нм; с=1,7084 нм) фаз 46/54 % (мас.). За даними електрохімічних досліджень, у випадку плівки фулериту, активованої паладієм, спостережено яскраво виражений гістерезис, що свідчить про формування деяких гідридних фаз на поверхні плівки С60.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"