Klad'ko V. P. Investigation of GaAs/AlAs short-periodic superlattices by high-resolution X-ray diffractometry = Дослідження короткоперіодних надграток GaAs/AlAs за допомогою високороздільної рентгенівської дифрактометрії / V. P. Klad'ko, L. I. Datsenko, A. V. Kuchuk, Ja. Domagala, A. V. Shalimov, A. A. Korchovyi // Укр. фіз. журн. - 2004. - 49, № 1. - С. 79-84. - Библиогр.: 10 назв. - англ.За допомогою методу високороздільної рентгенівської дифрактометрії досліджено розсіяння рентгенівських променів у короткоперіодних надгратках (НГ) GaAs/AlAs. З використанням підгонки теоретичних кривих дифракційного відбиття до експериментальних одержано як параметри дифракції, так і структурні параметри НГ (товщини субшарів, рівень деформації в шарах). Установлено, що, незважаючи на значні величини деформацій у шарах НГ, їх когерентність і структурна досконалість є досить високою. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.221 + В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|