A method is suggested and validated for the deduction of orientational order parameter values <$E eta> in molecular crystals consisting of diatomics directly from integrated x-ray diffraction intensities. This method is applied to pure solid nitrogen in its <$E alpha> phase. It is shown that to within a good accuracy the integrated intensity of a superstructure reflection is proportional to <$E eta sup 2>. The <$E eta> values determined from X-ray powder diffraction measurements agrees well with the values obtained by NQR and NMR.

• Гальцов Миколай Миколайович (технічні науки)
• Стржемечний Михайло Олексійович (1940–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"