![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000145304<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Gevelyuk S. A. An interferometric method of inner surface morphology investigation in porous glass / S. A. Gevelyuk, I. K. Doycho, V. T. Mak, E. D. Safronsky, V. A. Vorobjova // Фотоэлектроника: Межвед. науч. сб. - 2005. - Вып. 14. - С. 101-104. - Библиогр.: 12 назв. - англ.A method of inner surface morphology investigation in porous glass using modified Michelson's interferometer is presented. The possibility of residual silica gel detection in pores by interferometric measurements is shown. The method also allows to distinguish the role of compressing and stretching forces in the mechanical deformation of porous samples. The proposed method is convenient to study the effect of additional treatments on the removal of residual silica gel out of porous glasses. Interferometric measurements make it possible to minimize the mechanical deformations of a porous layer on a solid substrate by tuning the layers thickness ratio. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.4 + В374.41 + Л43-1с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж67522 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|