Васильев М. А. Профиль послойного распределения коэффициента термического расширения в приповерхностной области Ni(100) / М. А. Васильев, А. Г. Блащук, И. Н. Макеева // Металлофизика и новейшие технологии. - 2005. - 27, № 4. - С. 489-498. - Библиогр.: 17 назв. - рус.Розроблено алгоритм побудови профілів коефіцієнта термічного розширення для приповерхневої області монокристалів. Використано метод пошарової поверхневої дилатометрії, що зводиться до вимірювання коефіцієнта термічного розширення по енергетичних зсувах дифракційних максимумів та наступного відновлення пошарової інформації за даними експерименту. Виявлено, що така математична обробка дає можливість одержати немонотонну форму профілю пошарового розподілу для коефіцієнта термічного розширення Ni(100). Ключ. слова: электронная дифракция, поверхность, монокристалл, коэффициент термического расширения, модельный атомный потенциал Індекс рубрикатора НБУВ: К232.202.1
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|