Виведено рекурентні співвідношення для амплітуд когерентних хвиль у багатошаровій структурі з дефектами та одержано вираз для дифузної компоненти коефіцієнта відбиття цієї структури з урахуванням перерозподілу інтенсивності прямої і дифрагованої когерентних хвиль в кожному з шарів. Одержані формули застосовано для аналізу кривих дифракційного відбиття багатошарової структури з квантовою ямою InGaAsN до та після швидкого теплового відпалу. Знайдено товщини та хімічний склад шарів, деформації та профілі концентрації хімічних елементів у них, які утворилися в результаті процесів сегрегації і взаємодифузії. Визначено характеристики мікродефектів (кластерів і дислокаційних петель) в усіх шарах.

• Шпак Андрій Петрович (юридичні науки)
• Шпак Анатолій Петрович (1949–2011) (фізико-математичні науки)
• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)
• Оліховський Степан Йосипович (фізико-математичні науки)
• Кисловський Євген Миколайович (фізико-математичні науки)
• Фодчук Ігор Михайлович (технічні науки)
• Скакунова Олена Сергіївна (фізико-математичні науки)
• Первак Катерина Вадимівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"