Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000155569<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Сидоренко С. І. Використання методики вторинно-іонної мас-спектрометрії для кількісного елементного аналізу аморфних металевих сплавів складного складу / С. І. Сидоренко, С. М. Волошко, В. Г. Костюченко // Наук. вісті НТУУ "КПІ". - 2005. - № 4. - С. 88-91. - Бібліогр.: 4 назв. - укp.Запропоновано методику використання ВІМС для кількісного елементного аналізу аморфних металевих сплавів, підданих <$E gamma>-опроміненню. Дана методика не вимагає приготування спеціальних еталонів і враховує вплив "матричного ефекту". Контрольні експерименти з використанням рентгено-спектрального методу та рентгенівської фотоелектронної спектроскопії підтверджують результати, одержані за допомогою методу ВІМС. Індекс рубрикатора НБУВ: К297.08-1 с
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16492 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|