РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000159342<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Турченко В. А. 
Влияние состава и температуры спекания на дефектность структуры, фазовые переходы и свойства магниторезистивной керамики легированных стронцием манганит-лантановых перовскитов / В. А. Турченко, В. П. Пащенко, В. К. Прокопенко, А. В. Пащенко, Ю. Ф. Ревенко, В. Я. Сычева, В. Д. Бахмацкий, А. И. Бажин, И. В. Жихарев // Порошковая металлургия. - 2006. - № 9-10. - С. 35-44. - Библиогр.: 23 назв. - рус.

За допомогою методів рентгеноструктурного, резистивного та магнітного аналізу досліджено керамічні зразки <$E {roman La} sub 1-x sup 3+ {roman Sr} sub x sup 2+ roman MnO sub 3 sup 2-> (x = 0; 0,1; 0,15; 0,2; 0,3; 0,4), спечені за різних температур (1150, 1200, 1350 і 1500 <$E symbol Р>C). Установлено, що із зростанням вмісту <$E roman Sr sup 2+> у <$E {roman La} sub 1-x {roman Sr} sub x roman MnO sub {3~symbol С~delta}> (х = 0 - 0,4) зменшуються параметр кристалічної гратки (а) і ступені її ромбоедричного (<$E R 3 Bar с>) викривлення (<$E alpha>). Температури фазових переходів метал - напівпровідник (<$E T sub roman ms>), феромагнетик - парамагнетик (<$E T sub roman c>), пік магніторезистивності (<$E T sub roman p>) підвищуються, а енергія активації (<$E E sub roman a>) зменшується. При цьому зростають дефектність гратки, яка містить аніонні (<$E V sup roman (a)>) та катіонні (в A- та B-позиціях) вакансії, усереднена валентність мангану й фактор толерантності (t). Показано, що зарядова компенсація при допіюванні <$E roman Sr sup 2+> відбувається за двома механізмами: перший - через перехід <$E roman {Mn sup 3+~ symbol О~Mn sup 4+}> (близько 80 %), другий - через утворення <$E V sup roman (a)> (близько 20 %), причому вклад другого механізму зростає за умов підвищення температури спікання. Із підвищенням х зменшується магніторезистивний ефект при <$E T sub roman p> і слабо зростає низькопольовий тунельний магніторезистивний ефект.

Установлено протилежний характер концентраційних залежностей внутрішньокристалічного пікового магніторезистивного ефекту при <$E T sub roman p> та міжкристалічного магніторезистивного ефекту в напівпровідниковій області у разі <$E T~<< <<~T sub roman p>.


Індекс рубрикатора НБУВ: К390.45-18

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж28502 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського