Солонін Ю. М. Дослідження структури тонких плівок фуллериту <$E bold roman C sub 60> методою високороздільної електронної мікроскопії / Ю. М. Солонін, К. О. Грайворонська, С. О. Непійко, М. Кліменков // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2005. - 3, вип. 2. - С. 315-321. - Бібліогр.: 13 назв. - укp.За допомогою методу високороздільної електронної мікроскопії на молекулярному рівні досліджено дефекти, які утворюються в тонких плівках фуллериту <$E roman C sub 60>. Плівки було одержано термічним випаровуванням у вакуумі на підігріту підкладку NaCl(100) без додаткового напорошення аморфної вуглецевої плівки. Низька енергія дефектів пакування фуллериту зумовлює високу схильність цього матеріалу до двійникування. В ході досліджень спостерігались структури, які містять дефекти пакування, межі двійників, а також пакування, що відповідають політипним структурам. Також були виявлені прошарки ГЩУ-структури. Проаналізовано різні структури, які спостерігались, і зроблено припущення про механізми структуроутворення в тонких плівках фуллериту. Ключ. слова: фуллерит, тонкі плівки, структура, високороздільна електронна мікроскопія, дефект пакування, політип Індекс рубрикатора НБУВ: Г741.4-1 + В372
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|