Розроблено метод індексування кристалічних структур в системі прямо пропорційних індексів, які позначаються H, К, L. Метод враховує порядок відбиття N та кратність відбивальних площин M, тобто рефлекси типу HKL(M/N). Це дає можливість обчислювати більш дрібні комірки. Наприклад, для <$E alpha>-Mn вдається обчислити тетрагональну примітивну комірку; з таких складається кубічна комірка. При використанні загальноприйнятої системи індексів також слід враховувати подібного типу рефлекси - рефлекси hkl.m. Це видно із наведеного узагальненого рівняння Вульфа - Брегга. Необхідність введення множника m стає зрозумілою, якщо розглянути відстань d0 діагоналі кубічної комірки від початку координат. Числово d0 дорівнює 2d211 (m = 2) в загальноприйнятій системі індексів. Якщо d0 як міжплощинна відстань є серед ліній рентгенограми в першому порядку, то індексування можливе лише при подвоєнні параметрів комірки, тобто для комірки з <$E a sub roman куб sup hkl~=~2 a sub roman куб>, що може призвести до восьмикратного завищення об'єму елементарної комірки, що розраховується.

Ключ. слова: межплоскостные расстояния, индексы, рентгенограмма, ячейки, порядок отражения, кратность плоскостей
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13

Рубрики:

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"