Мельник И. В. Исследование электронно-ионной оптики электродных систем высоковольтного тлеющего разряда с использованием компьютерного анализа изображений / И. В. Мельник // Электрон. моделирование. - 2007. - 29, № 1. - С. 45-58. - Библиогр.: 14 назв. - рус.Предложена методика моделирования электродных систем (ЭС) высоковольтного тлеющего разряда, основанная на анализе яркости фотографий разряда. Граница анодной плазмы, разграничивающая светлую и темную области разряда, рассматривается как эмиттер ионов и как прозрачный для электронов электрод с заданным потенциалом. Результаты моделирования для реальных ЭС проверены экспериментально. Індекс рубрикатора НБУВ: В333.321с0
Шифр НБУВ: Ж14163 Пошук видання у каталогах НБУВ
![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|