РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000165870<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Шпак А. П. 
Комплексная двух- и трехкристальная рентгеновская дифрактометрия с учетом микродефектов и нарушенных поверхностных слоев во всех кристаллах рентгенооптических схем / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, Е. Н. Кисловский, О. В. Решетник, Т. П. Владимирова, Е. Г. Лень, В. Н. Венгер, А. А. Белоцкая // Металлофизика и новейшие технологии. - 2006. - 28, № 9. - С. 1209-1227. - Библиогр.: 32 назв. - рус.

Аналитические выражения для описания интенсивности когерентного и диффузного рассеяний с учетом инструментальных особенностей двух- и трехкристального дифрактометров (ДКД и ТКД) выведены из формул обобщенной динамической теории рассеяния рентгеновских лучей в реальных монокристаллах с микродефектами нескольких типов. Проведены измерения и анализ полных профилей ТКД и ДКД от монокристалла кремния с микродефектами и деформированным поверхностным слоем. В рамках комбинированного метода (ДКД + ТКД) определены характеристики дефектных структур кристаллов образца и монохроматора.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського