Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000165870<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Шпак А. П. Комплексная двух- и трехкристальная рентгеновская дифрактометрия с учетом микродефектов и нарушенных поверхностных слоев во всех кристаллах рентгенооптических схем / А. П. Шпак, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, Е. Н. Кисловский, О. В. Решетник, Т. П. Владимирова, Е. Г. Лень, В. Н. Венгер, А. А. Белоцкая // Металлофизика и новейшие технологии. - 2006. - 28, № 9. - С. 1209-1227. - Библиогр.: 32 назв. - рус.Аналитические выражения для описания интенсивности когерентного и диффузного рассеяний с учетом инструментальных особенностей двух- и трехкристального дифрактометров (ДКД и ТКД) выведены из формул обобщенной динамической теории рассеяния рентгеновских лучей в реальных монокристаллах с микродефектами нескольких типов. Проведены измерения и анализ полных профилей ТКД и ДКД от монокристалла кремния с микродефектами и деформированным поверхностным слоем. В рамках комбинированного метода (ДКД + ТКД) определены характеристики дефектных структур кристаллов образца и монохроматора. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|