![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Наукова періодика України ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Тематичний навігатор ![](/irbis_nbuv/images/db_navy.gif) Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000167351<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Аль Мади М.К. Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств / Аль Мади М.К., В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев // Радіоелектрон. і комп'ют. системи. - 2006. - № 5. - С. 134-137. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Предложен метод выбора парето-оптимальных тестов, основанный на нечетких априорных данных, что позволяет учитывать опыт квалифицированных специалистов в области диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств. Ключ. слова: диагностирование, запоминающие устройства, критерии качества, парето-оптимальные тесты Індекс рубрикатора НБУВ: З973-045
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж24450 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|