РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000167351<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Аль Мади М.К. 
Метод выбора парето-оптимальных тестов для диагностирования запоминающих устройств / Аль Мади М.К., В. А. Андриенко, В. Г. Рябцев // Радіоелектрон. і комп'ют. системи. - 2006. - № 5. - С. 134-137. - Библиогр.: 5 назв. - рус.

Предложен метод выбора парето-оптимальных тестов, основанный на нечетких априорных данных, что позволяет учитывать опыт квалифицированных специалистов в области диагностирования полупроводниковых запоминающих устройств.


Ключ. слова: диагностирование, запоминающие устройства, критерии качества, парето-оптимальные тесты
Індекс рубрикатора НБУВ: З973-045

Рубрики:
 Комп'ютери та програмування 

Шифр НБУВ: Ж24450 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського